Корзина
Нет отзывов, добавить
+375
17
237-81-42
+375
29
640-41-26
БеларусьМинскг. Минск, ул. Калинина, 7б220012
Корзина
Производственно-технологическое оборудование | Suara Sepi

Рентгеновская система для определения ориентации кристаллов TS-XSF-370527X-2H8

Рентгеновская система для определения ориентации кристаллов TS-XSF-370527X-2H8
  • Под заказ

Цену уточняйте

Рентгеновская система для определения ориентации кристаллов TS-XSF-370527X-2H8
Рентгеновская система для определения ориентации кристаллов TS-XSF-370527X-2H8Под заказ
Цену уточняйте
+37517237-81-42
418
  • +37529640-41-26
+37517237-81-42
418
  • +37529640-41-26
  • Адрес и контакты

Описание продукта

Данная система может осуществлять ориентирование образцов сапфировых или иных кристаллов. Вес кристалла должен быть в пределах 30 кг, а размер 2~8 дюймов.

TS-XSF-370527-X­2H8 может на выбор комплектоваться различными рабочими столами TS-XSF-370527A, TS-XSF-370527B, TS-XSF-370527D, TS-XSF-370527E, предназначенными для различных нужд  Точность системы составляет  ±30", цифровой дисплей, минимальный отсчет 10".

 

Технические данные

  • Входящий ток: однофазный переменный ток напряжением 220 В, 50 Гц, 0,5 кВт.
  • Рентгеновская трубка: медный облучаемый объект, воздушное охлаждение
  • Напряжение трубки: 30 кВ
  • Ток трубки: 0~5 мА
  • Детектор:  счетчик Гейгера
  • Константа времени: 0,1 с, 0,4 с, 3 с
  • Диапазон углов: θ=­10°~ 50°, 2θ=­10°~100°
  • Отсчет углов: минимальные значения отсчета указаны на круговой шкале: 2θ:1°,θ:1°
  • Регулирование углов: цифры могут отображаться на любом угле
  • Диапазон щелей монохроматора: 4', 5', 6'
  • Оптический затвор: ручной
  • Отображение: цифровой дисплей углов
  • Точность: ±30"
  • Размеры: 1150 мм (Д) × 665 мм (Ш) × 1100 мм (В)
  • Вес: 170 кг

 

Рабочий стол рентгеновского прибора для ориентирования серии TS-XSF-370527-X­2H8

Рабочий стол TS-XSF-370527-A

В основном используется для осмотра поверхности и кристалла в отношении силиконовых монокристаллов и сапфировых стержней. Обеспечивает работу с кристаллическим стержнем 1~30 кг, достигающим в диаметре 2~8 дюймов. Также можно производить осмотр кристалла размером 2~8 дюймов.

 

Рабочий стол TS-XSF-370527-B

В основном используется для осмотра торцевой поверхности силиконовых монокристаллов и сапфировых стержней. Данный рабочий стол имеет V-образный дизайн и может автоматически регулировать ширину V-образного желоба с целью упрощения вращения на 360° на рабочем столе разных цилиндрических кристаллов больших размеров. Обеспечивает работу с кристаллическим стержнем 1~30 кг, достигающим в диаметре 2~8 дюймов. Максимальный размер торцевой поверхности может достигать 500 мм, также можно производить осмотр кристалла размером 2~8 дюймов.

 

Рабочий стол TS-XSF-370527-D

В основном используется для осмотра стандартной поверхности силиконовых монокристаллов и сапфировых стержней. Расположение воздуховсасывающей пластинки выполнено в открытом дизайне за счет чего устранена проблема, когда воздуховсасывающая пластинка препятствует работе по рентгеновскому облучению и позиционированию. При этом такой дизайн позволяет производить осмотр базовой стороны кристаллов различного размера. Всасывающий насос н рабочем столе может засасывать кристалл размером 2~8 дюймов.

 

Рабочий стол TS-XSF-370527-E

В основном используется для измерения силиконовых монокристаллов и сапфировых кристаллов. Кристалл на рабочем столе можно вращать вручную, например, на 0°, 90°, 180°, 270° и т.д. Это позволяет удовлетворять особые требования клиентов, предъявляемые к измерению кристаллов.

Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте