Описание продукта
TS-XIF-370525-200 представляет собой высокоточный прибор дифракционного типа для ориентации сдвоенных кристаллов, который прост в эксплуатации, обладает низкой интенсивностью. Применим для определения ориентации пьезокристаллов, оптических кристаллов и иных материалов из одного типа кристалла.
Модель TS-XIF-370525-200: точность ±15", дисплей шкалы, минимальный отсчет 10"
Технические данные
- Входящий ток: однофазный переменный ток напряжением 220 В, 50 Гц, 0,5 кВт.
- Рентгеновская трубка: медный облучаемый объект, воздушное охлаждение, напряжение трубки: 30 кВ, ток трубки: 0~5 мА
- Детектор: счетчик Гейгера
- Константа времени: 0,1 с, 0,4 с, 3 с
- Угол для испытания: θ=10°~50°,2θ=10°~100°
- Считывание углов: минимальное считывание отмечено на круговой шкале: 2θ:1°,θ:1°;
- Цифровой дисплей: градусы, минуты, секунды
- Регулировка угла: число может отображаться на любом угле
- Оптический затвор: ручной
- Дисплей: цифровой дисплей угла
- Размеры: 1140 мм (Д) × 650 мм (Ш) × 1030 мм (В)
- Вес: 150 кг
Информация для заказа
- Цена: Цену уточняйте