Рентгеновская установка для ориентации кристаллов TS-XIF-370525-200

Описание продукта

TS-XIF-370525-­200 представляет собой высокоточный прибор дифракционного типа для ориентации сдвоенных кристаллов, который прост в эксплуатации, обладает низкой интенсивностью. Применим для определения ориентации пьезокристаллов, оптических кристаллов и иных материалов из одного типа кристалла.

Модель TS-XIF-370525-200: точность ±15", дисплей шкалы, минимальный отсчет 10"

Технические данные

• Входящий ток: однофазный переменный ток напряжением 220 В, 50 Гц, 0,5 кВт.
• Рентгеновская трубка: медный облучаемый объект, воздушное охлаждение, напряжение трубки: 30 кВ, ток трубки: 0~5 мА
• Детектор:  счетчик Гейгера
• Константа времени: 0,1 с, 0,4 с, 3 с
• Угол для испытания: θ=­10°~50°,2θ=­10°~100°
• Считывание углов: минимальное считывание отмечено на круговой шкале: 2θ:1°,θ:1°; 
• Цифровой дисплей: градусы, минуты, секунды
• Регулировка угла: число может отображаться на любом угле
• Оптический затвор: ручной
• Дисплей: цифровой дисплей угла
• Размеры: 1140 мм (Д) × 650 мм (Ш) × 1030 мм (В)
• Вес: 150 кг