Корзина
Нет отзывов, добавить
+375 (17) 237-81-42
+375 (29) 394-38-50
БеларусьМинскул. Кропоткина, 91A
Корзина
Производственно-технологическое оборудование | Suara Sepi

Рентгеновский дифрактометр TS-XRD-170437

Рентгеновский дифрактометр TS-XRD-170437
  • Под заказ

Цену уточняйте

Рентгеновский дифрактометр TS-XRD-170437
Рентгеновский дифрактометр TS-XRD-170437Под заказ
Цену уточняйте
+375 (17) 237-81-42
418
  • +375 (29) 394-38-50
+375 (17) 237-81-42
418
  • +375 (29) 394-38-50
  • Адрес и контакты

Модель: TS-XRD-170437

 

Применение

Дифрактометр серии AL  предназначен для испытания материалов и анализа промышленных продуктов. Это идеальное сочетание стандартного анализа и измерений специального назначения.

  • Данная система представляет собой идеальное сочетание аппаратной и программной частей, что отвечает потребностям ученых и исследователей из разных областей применения. 
  • Система угловых измерений с высокоточной дифракцией обеспечивает более точные результаты.
  • Высокостабильная система контроля генератора рентгеновского излучения обеспечивает более высокую точность при повторяющихся измерениях.
  • Программируемая работа, дизайн конструкции с интегрируемыми узлами, простота работы, элегантный внешний вид . Рентгеновский дифрактометр (РД) – это универсальный испытательный инструмент для получения информации о структуре кристаллов и химическом составе:
  • Одно- или несколькофазное определение незнакомого образца
  • На известной фазе происходит качественный фазный анализ смешанных образцов
  • Структурный анализ кристаллов
  • Структура кристаллов меняется при нестандартных условиях (условия высокой температуры, низкой температуры)
  • Анализ поверхностной пленки материалов
  • Анализ текстуры металлических материалов и стресс-анализ

 

Технические данные

TS-XRD-170437-Y3000

Номинальная мощность

3000 Вт

Напряжение трубки

10 – 60 кВ

Ток трубки

5 – 80 мА

Рентгеновская трубка

Стекляная трубка, керамическая трубка, трубка из шероховатой керамики: Cu, Fe, Co, Cr, Mo и т.д.

Мощность: 2000 Вт

Размер области фокусировки

1×10 мм или 0,4×14 мм или 2×12 мм

Стабильность

≤0,01%

Структура гониометра

Горизонтальная (θ~20)

Радиус дифракции

185 мм

Диапазон сканирования

θ~164

Скорость сканирования

0,0012°~70° мин

Макс. скорость вращения

100° мин

Режим сканирования

Связь 0~20, 0, 20 по-отдельности, непрерывное или пошаговое сканирование

Точность повторных угловых измерений

1/1000°

Минимальный шаговый угол

1/1000°

Детектор

Пропорциональные счетчики (ПС)или сцинтиляционные счетчики (СС)

Макс. линейная скорость счета

5×10 подсчетов в секунду (с функцией компенсации выпадающих счетов)

Коэффициент энергетического разрешения

≤25% (ПС), ≤50% (СС)

Режим счета

Диференциальный коэффициент или игтеграл, атоматический анализ амплитуд импульсов, регулирование времени простоя

Стабильность измерения системы

≤0,01%

Доза рассеивающихся лучей

≤1 мкЗв/ч (без устрйства защиты от регнтгеновского излучения)

Совокупная стабильность инструмента

≤0,5%

Внешние размеры

1100×850×1750

 

Описание продукта

Рентгеновский дифрактометр может анализировать природные или синтетические органические или неорганические материалы, широко используется в области глинистых минералов, строительных материалов наподобие цемента, промышленной пыли, химических веществ, фармацевтической продукции, асбестов, скальных пород, исследования полимеров.

  • На основании с оптическим дизайном геометрии θ­θ легко готовить образцы и устанавливать различные принадлежности
  • Применение металло-керамической рентгеновской трубки значительно улучшает рабочую мощность дифрактометра
  • Закрытый пропорциональный счетчик долговечный и не требует техобслуживания ●Силиконовый дрейфовый детектор с наилучшим угловым разрешением  и энергетическим разрешением обеспечивает увеличенную более чем в 3 раза скорость измерений
  • Наличие у дифрактометра различных акуссесуаров обеспечивает удовлетворение потребностей, касающихся различных аналитических целей
  • Модульный дизайн компонентов по типу «подключи и работай» позволяет оператору точно использовать дифрактометр с соответствующими приспособлениями без необходимости подсчитывания оптической системы.

R-Ray Tube – рентгеновская трубка

Detector - детектор

0-0 goniometer geometry optical image – оптическое изображение геометрии гониометра 0-0

 

Функция измерения данных

  • Стандартные симметрические измерения θs ­ θd
  • Качественный и количественный анализ
  • Структурный анализ кристаллов образца
  • Оценка кристаллизации кристалла
  • Оценка размера кристаллической решетки и напряжения в решетке

  • Измерение асимметрии θs­θd (измерение угла рассеяния при падении света на кристаллическую решетку)
  • Качественный и структурный анализ образца пленки/порошка.
  • Точный анализ параметров решетки
  • Оценка остаточного напряжения/ориентации
  • Измерение пленки/плотности

  • Измерение с крылом OMG
  • Точная оценка статуса кристаллизации образца

Различные функции измерения предназначены для исследования структуры материалов, а для обработки результатов каждого из методов измерений имеется свое отдельное ПО, отвечающее требованиям соответствующего анализа.

Sola slit – одиночная щель

Receiving slit – приемная щель

Divergence slit – щель расходимости

Sample - образец

Scattering slit – щель рассеивания

Detector - детектор

Change - изменение

Rotate - повернуть

Focus method optical system – оптическая система с методом фокусировки

No need readjust optical system – нет необходимости в повторной настройке оптической системы

Parallel beam optical system (thin film optical system) – оптическая система параллельных пучков (оптическая система с тонкой пленкой)

 

Преобразование оптической системы

 

Вы можете по отдельности менять одиночные щели, не отключая блок со щелями. Ввиду этой особенности вы можете произвести преобразование оптической системы фокусировки и горизонтальной оптической системы без перенастройки дифрактометра. Оптическая система с предыдущей фокусировкой и оптическая система параллельных пучков требуют настройки монохроматора с изогнутым кристаллом, после преобразования такой оптической системы она нуждается в корректировке. Нужно просто повернуть кристалл монохроматора на 90° и изменить структуру одиночной щели, после чего аппарат может производить преобразование оптической системы.

 

ПО для обработки данных выполняет следующие функции:

  • Основные функции обработки данных (поиск пиков, сглаживание, вычитание фона, подборка формы пиков, увеличение формы пиков, сравнение спектров, Kα1, α2-стриппинг, индексирование дифракционных линий)
  • Быстрый количественный анализ нестандартных образцов
  • Измерение размера кристаллов
  • Структурный анализ кристаллов (измерение и уточнение параметров кристаллической решетки)

0-20 horizontal goniometer – горизонтальный гониометр 0-20

  • Измерение и расчет микроскопических напряжений ;
  • Двухмерное и трехмерное отображение множественных изображений;
  • Анализ кластера изображений дифракционного пика;
  • Кривая калибровки ширины полупика дифракционных данных;
  • Кривая корректировки углового отклонения отклоняющихся данных;
  • Стандартный количественный анализ на основе Rietveld;
  • Использование базы данных Международного центра дифракционных данных или базы данных пользователя для проведения фазового качественного анализа;
  • Использование базы данных Международного центра дифракционных данных или базы данных ICSD для проведения количественного анализа;

Помимо базовых функций дифрактометры серии DX  могут быстро комплектоваться множеством различных аксессуаров и обладают наилучшими аналитическими возможностями.

Высокоточная совместимость узлов значительно повысила возможность повторяемости результатов при смене узлов, работающих по принципу «подключи и работай». Малые пучки не нуждаются в калибровке, измерение со специальным наведением может осуществляться просто путем выбора нужных аксессуаров из ПО.

 

Многофункциональный образцедержатель

 

С увеличением значимости исследования материалов все больше и больше пластин, массивных материалов и пленок подложки также нуждаются в рентгеновском исследовании характеристик. Для исследования текстуры и проведения микрострессового тестирования, а также исследования структуры поверхности пленок на гониометр можно устанавливать многофункциональный образцедержатель. Функция каждого типа исследования имеет  соответствующее ПО для расчетов.

  • Измерение и анализ текстуры на измельчающей вращающейся пластинке (из  алюминия, железа или меди и т.д.)
  • Измерение остаточного напряжения металлов, керамики и прочих материалов
  • Приоритетная многогранная оценка кристаллов образца пленки
  • Ориентационные измерения макромолекулярных составов
  • Анализ металлов, многослойной пленки на неметаллической основе, оксидной пленки, нитридной пленки 

Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте